ટ્રાન્સફોર્મરનું ઇમ્પલ્સ ટેસ્ટ

મુખ્ય શિક્ષણ:
●ટ્રાન્સફોર્મર વ્યાખ્યાની ઇમ્પલ્સ ટેસ્ટ:ટ્રાન્સફોર્મરનું આવેગ પરીક્ષણ ઉચ્ચ-વોલ્ટેજ આવેગનો સામનો કરવાની તેની ક્ષમતાને તપાસે છે, ખાતરી કરે છે કે તેનું ઇન્સ્યુલેશન વોલ્ટેજમાં અચાનક સ્પાઇક્સને નિયંત્રિત કરી શકે છે.
●લાઈટનિંગ ઈમ્પલ્સ ટેસ્ટ:આ પરીક્ષણ ટ્રાન્સફોર્મર ઇન્સ્યુલેશનનું મૂલ્યાંકન કરવા માટે કુદરતી વીજળી જેવા વોલ્ટેજનો ઉપયોગ કરે છે, જે નિષ્ફળતાનું કારણ બની શકે તેવી નબળાઈઓને ઓળખે છે.
● સ્વિચિંગ ઇમ્પલ્સ ટેસ્ટ:આ પરીક્ષણ નેટવર્કમાં સ્વિચિંગ કામગીરીમાંથી વોલ્ટેજ સ્પાઇક્સનું અનુકરણ કરે છે, જે ટ્રાન્સફોર્મરના ઇન્સ્યુલેશનને પણ તણાવ આપી શકે છે.
●ઇમ્પલ્સ જનરેટર:માર્ક્સ સર્કિટ પર આધારિત ઇમ્પલ્સ જનરેટર, કેપેસિટરને સમાંતરમાં ચાર્જ કરીને અને શ્રેણીમાં ડિસ્ચાર્જ કરીને ઉચ્ચ-વોલ્ટેજ આવેગ બનાવે છે.
●પરીક્ષણ પ્રદર્શન:પરીક્ષણ પ્રક્રિયામાં કોઈપણ ઇન્સ્યુલેશન નિષ્ફળતાને ઓળખવા માટે પ્રમાણભૂત લાઈટનિંગ ઇમ્પલ્સ અને રેકોર્ડિંગ વોલ્ટેજ અને વર્તમાન વેવફોર્મ્સનો સમાવેશ થાય છે.
લાઇટિંગ એ એક સામાન્ય ઘટના છેટ્રાન્સમિશન લાઇનતેમની ઊંચી ઊંચાઈને કારણે. લાઈન પર આ વીજળીનો સ્ટ્રોકવાહકઆવેગ વોલ્ટેજનું કારણ બને છે. ટ્રાન્સમિશન લાઇનના ટર્મિનલ સાધનો જેમ કેપાવર ટ્રાન્સફોર્મરપછી આ લાઈટનિંગ ઈમ્પલ્સ વોલ્ટેજનો અનુભવ થાય છે. ફરીથી સિસ્ટમમાં તમામ પ્રકારની ઓનલાઈન સ્વિચિંગ કામગીરી દરમિયાન, નેટવર્કમાં સ્વિચિંગ ઈમ્પલ્સ જોવા મળશે. સ્વિચિંગ ઇમ્પલ્સની તીવ્રતા સિસ્ટમ વોલ્ટેજ કરતાં લગભગ 3.5 ગણી વધારે હોઈ શકે છે.
ટ્રાન્સફોર્મર્સ માટે ઇન્સ્યુલેશન નિર્ણાયક છે, કારણ કે કોઈપણ નબળાઈ નિષ્ફળતાનું કારણ બની શકે છે. તેની અસરકારકતા ચકાસવા માટે, ટ્રાન્સફોર્મર્સ ડાઇલેક્ટ્રિક પરીક્ષણોમાંથી પસાર થાય છે. જો કે, પાવર ફ્રીક્વન્સી ટકી રહેલ ટેસ્ટ ડાઇલેક્ટ્રિક તાકાત બતાવવા માટે પૂરતી નથી. એટલા માટે લાઈટનિંગ અને સ્વિચિંગ ઈમ્પલ્સ ટેસ્ટ સહિત ઈમ્પલ્સ ટેસ્ટ કરવામાં આવે છે
લાઈટનિંગ ઇમ્પલ્સ
વીજળી આવેગ એ શુદ્ધ કુદરતી ઘટના છે. તેથી વીજળીના વિક્ષેપના વાસ્તવિક તરંગ આકારની આગાહી કરવી ખૂબ મુશ્કેલ છે. કુદરતી વીજળી વિશે સંકલિત ડેટા પરથી, એવું તારણ કાઢી શકાય છે કે કુદરતી વીજળીના સ્ટ્રોકને કારણે સિસ્ટમમાં ખલેલ, ત્રણ મૂળભૂત તરંગ આકાર દ્વારા રજૂ કરી શકાય છે.
● સંપૂર્ણ તરંગ
●અદલાબદલી તરંગ અને
● મોજાની આગળ
જો કે વાસ્તવિક લાઈટનિંગ ઈમ્પલ્સ ડિસ્ટર્બન્સમાં આ ત્રણ આકાર બરાબર ન હોઈ શકે પરંતુ આ તરંગોને વ્યાખ્યાયિત કરીને તમે ટ્રાન્સફોર્મરની ન્યૂનતમ ઈમ્પલ્સ ડાઇલેક્ટ્રિક તાકાત સ્થાપિત કરી શકો છો.
જો પહોંચતા પહેલા ટ્રાન્સમિશન લાઇન સાથે વીજળીનો ખલેલ પહોંચે છેટ્રાન્સફોર્મર, તેનો તરંગ આકાર સંપૂર્ણ તરંગ બની શકે છે. જો કોઈ પણ સમયે ફ્લેશ ઓવર થાય છેઇન્સ્યુલેટરતરંગની ટોચ પછી, તે અદલાબદલી તરંગ બની શકે છે.
જો વીજળીનો સ્ટ્રોક સીધો ટ્રાન્સફોર્મર ટર્મિનલ્સને અથડાવે છે, તો આવેગવોલ્ટેજજ્યાં સુધી તે ફ્લેશ ઓવર દ્વારા રાહત ન મળે ત્યાં સુધી ઝડપથી વધે છે. ફ્લેશ-ઓવરની ક્ષણે વોલ્ટેજ અચાનક તૂટી જાય છે અને તરંગ આકારની આગળનો ભાગ બની શકે છે.
ટ્રાન્સફોર્મર ઇન્સ્યુલેશન પર આ વેવફોર્મ્સની અસર એકબીજાથી અલગ હોઈ શકે છે. ટ્રાન્સફોર્મરમાં કયા પ્રકારના ઇમ્પલ્સ વોલ્ટેજ વેવફોર્મ્સ કયા પ્રકારની નિષ્ફળતાનું કારણ બને છે તેની વિગતવાર ચર્ચા અમે અહીં નથી કરી રહ્યા. પરંતુ લાઈટનિંગ ડિસ્ટર્બન્સ વોલ્ટેજ તરંગનો આકાર ગમે તે હોય, તે બધા ટ્રાન્સફોર્મરમાં ઇન્સ્યુલેશન નિષ્ફળતાનું કારણ બની શકે છે. તેથીટ્રાન્સફોર્મરની લાઇટિંગ ઇમ્પલ્સ ટેસ્ટટ્રાન્સફોર્મરનું સૌથી મહત્વપૂર્ણ પ્રકારનું પરીક્ષણ છે.

સ્વિચિંગ ઇમ્પલ્સ
અભ્યાસો અને અવલોકનો દ્વારા જાણવા મળે છે કે સ્વિચિંગ ઓવર વોલ્ટેજ અથવા સ્વિચિંગ ઇમ્પલ્સનો આગળનો સમય કેટલાક સો માઇક્રોસેકન્ડનો હોઈ શકે છે અને આ વોલ્ટેજ સમયાંતરે ભીના થઈ શકે છે. IEC – 600060 એ તેમના સ્વિચિંગ ઇમ્પલ્સ ટેસ્ટ માટે અપનાવ્યું છે, એક લાંબી તરંગ જેમાં આગળનો સમય 250 μs અને સમયનો અડધો સમય 2500 μs સહિષ્ણુતા સાથે છે.
ઇમ્પલ્સ વોલ્ટેજ ટેસ્ટનો હેતુ સુરક્ષિત કરવાનો છે કેટ્રાન્સફોર્મરઇન્સ્યુલેશન વીજળીના ઓવરવોલ્ટેજનો સામનો કરે છે જે સેવામાં થઈ શકે છે.

ઇમ્પલ્સ જનરેટરની ડિઝાઇન માર્ક્સ સર્કિટ પર આધારિત છે. મૂળભૂત સર્કિટ ડાયાગ્રામ ઉપરની આકૃતિ પર બતાવેલ છે. આવેગકેપેસિટર્સCs (750 ηF ના 12 કેપેસિટર) ચાર્જિંગ દ્વારા સમાંતર રીતે ચાર્જ કરવામાં આવે છેપ્રતિરોધકોRc (28 kΩ) (સૌથી વધુ અનુમતિપાત્ર ચાર્જિંગ વોલ્ટેજ 200 kV). જ્યારે ચાર્જિંગ વોલ્ટેજ જરૂરી મૂલ્ય સુધી પહોંચી જાય છે, ત્યારે સ્પાર્ક ગેપ F1નું ભંગાણ બાહ્ય ટ્રિગરિંગ પલ્સ દ્વારા શરૂ કરવામાં આવે છે. જ્યારે F1 તૂટી જાય છે, ત્યારે નીચેના તબક્કા (બિંદુ B અને C) ની સંભવિતતા વધે છે. કારણ કે સિરીઝ રેઝિસ્ટર Rs એ ડિસ્ચાર્જિંગ રેઝિસ્ટર Rb (4,5 kΩ) અને ચાર્જિંગ રેઝિસ્ટર Rc ની સરખામણીમાં નીચા-ઓહ્મિક મૂલ્યના છે, અને કારણ કે નીચા-ઓહ્મિક ડિસ્ચાર્જિંગ રેઝિસ્ટર Ra એ સહાયક સ્પાર્ક-ગેપ ફાલ દ્વારા સર્કિટથી અલગ થયેલ છે. , સ્પાર્ક-ગેપ F2 માં સંભવિત તફાવત નોંધપાત્ર રીતે વધે છે અને F2 ના ભંગાણ શરૂ થાય છે.
આમ સ્પાર્ક-ગેપ્સ ક્રમમાં તૂટી જાય છે. પરિણામે શ્રેણી-કનેક્શનમાં કેપેસિટર્સ ડિસ્ચાર્જ થાય છે. ઉચ્ચ-ઓહ્મિક ડિસ્ચાર્જ રેઝિસ્ટર Rb એ આવેગને સ્વિચ કરવા માટે અને નીચા-ઓહ્મિક રેઝિસ્ટર Ra ને લાઈટનિંગ ઇમ્પલ્સ માટે પરિમાણિત છે. કેટલાક સો નેનો-સેકન્ડના સમય વિલંબ સાથે, જ્યારે સહાયક સ્પાર્ક-ગેપ્સ તૂટી જાય છે ત્યારે રેઝિસ્ટર Ra એ રેઝિસ્ટર Rb સાથે સમાંતર રીતે જોડાયેલા હોય છે.
આ વ્યવસ્થા સુનિશ્ચિત કરે છે કે જનરેટર યોગ્ય રીતે કાર્ય કરે છે.
તરંગનો આકાર અને ઇમ્પલ્સ વોલ્ટેજનું ટોચનું મૂલ્ય ઇમ્પલ્સ એનાલાઇઝિંગ સિસ્ટમ (DIAS 733) દ્વારા માપવામાં આવે છે જે સાથે જોડાયેલ છે.વોલ્ટેજ વિભાજક. જરૂરી વોલ્ટેજ શ્રેણી-જોડાયેલા તબક્કાઓની યોગ્ય સંખ્યા પસંદ કરીને અને ચાર્જિંગ વોલ્ટેજને સમાયોજિત કરીને મેળવવામાં આવે છે. જરૂરી ડિસ્ચાર્જ ઊર્જા મેળવવા માટે જનરેટરના સમાંતર અથવા શ્રેણી-સમાંતર જોડાણોનો ઉપયોગ કરી શકાય છે. આ કિસ્સાઓમાં કેટલાક કેપેસિટર્સ ડિસ્ચાર્જ દરમિયાન સમાંતર રીતે જોડાયેલા હોય છે.
જરૂરી આવેગ આકાર શ્રેણીની યોગ્ય પસંદગી અને જનરેટરના ડિસ્ચાર્જ રેઝિસ્ટર દ્વારા મેળવવામાં આવે છે.
આગળના સમયની ગણતરી સમીકરણ પરથી અંદાજે કરી શકાય છે:
R1 >> R2 અને Cg >> C માટે (15.1)
Tt = .RC123
અને સમીકરણમાંથી અડધા મૂલ્યથી અડધો સમય
T ≈ 0,7.RC
વ્યવહારમાં, પરીક્ષણ સર્કિટ અનુભવ અનુસાર પરિમાણિત છે.

ઇમ્પલ્સ ટેસ્ટનું પ્રદર્શન
પરીક્ષણ નકારાત્મક ધ્રુવીયતાના પ્રમાણભૂત વીજળીના આવેગ સાથે કરવામાં આવે છે. આગળનો સમય (T1) અને અર્ધ-મૂલ્યનો સમય (T2) ધોરણ અનુસાર વ્યાખ્યાયિત કરવામાં આવે છે.
પ્રમાણભૂત વીજળી આવેગ
આગળનો સમય T1 = 1,2 μs ± 30%
અર્ધ-મૂલ્ય T2 = 50 μs ± 20% સુધીનો સમય

વ્યવહારમાં, ઉચ્ચ રેટેડ પાવરના લો-વોલ્ટેજ વિન્ડિંગ્સ અને ઉચ્ચ ઇનપુટ કેપેસિટેન્સના વિન્ડિંગ્સનું પરીક્ષણ કરતી વખતે ઇમ્પલ્સનો આકાર પ્રમાણભૂત આવેગમાંથી વિચલિત થઈ શકે છે. બાહ્ય ઇન્સ્યુલેશન અને ટેસ્ટ સર્કિટમાં અનિયમિત ફ્લેશ ઓવરને ટાળવા માટે ઇમ્પલ્સ ટેસ્ટ નેગેટિવ પોલેરિટી વોલ્ટેજ સાથે કરવામાં આવે છે. મોટાભાગના પરીક્ષણ પદાર્થો માટે વેવફોર્મ ગોઠવણો જરૂરી છે. સમાન એકમો પરના પરીક્ષણોના પરિણામો અથવા અંતિમ પૂર્વ ગણતરીમાંથી મેળવેલ અનુભવ વેવ શેપિંગ સર્કિટ માટે ઘટકોની પસંદગી માટે માર્ગદર્શન આપી શકે છે.
પરીક્ષણ ક્રમમાં સંપૂર્ણ કંપનવિસ્તારના 75% પર એક સંદર્ભ આવેગ (RW) હોય છે અને ત્યારબાદ સંપૂર્ણ કંપનવિસ્તાર (FW) પર વોલ્ટેજ એપ્લિકેશનની નિર્દિષ્ટ સંખ્યા (IEC 60076-3 ત્રણ પૂર્ણ આવેગ અનુસાર) હોય છે. વોલ્ટેજ માટેના સાધનો અનેવર્તમાનસિગ્નલ રેકોર્ડિંગમાં ડિજિટલ ક્ષણિક રેકોર્ડર, મોનિટર, કમ્પ્યુટર, પ્લોટર અને પ્રિન્ટરનો સમાવેશ થાય છે. નિષ્ફળતાના સંકેત માટે બે સ્તરો પરના રેકોર્ડિંગ્સની સીધી તુલના કરી શકાય છે. ટ્રાન્સફોર્મર્સના નિયમન માટે એક તબક્કાનું રેટેડ માટે ઓન-લોડ ટેપ ચેન્જર સેટ સાથે પરીક્ષણ કરવામાં આવે છેવોલ્ટેજઅને બે અન્ય તબક્કાઓ દરેક આત્યંતિક સ્થિતિમાં પરીક્ષણ કરવામાં આવે છે.

ઇમ્પલ્સ ટેસ્ટનું જોડાણ
તમામ ડાઇલેક્ટ્રિક પરીક્ષણો કામના ઇન્સ્યુલેશન સ્તરને તપાસે છે. ઇમ્પલ્સ જનરેટરનો ઉપયોગ ઉલ્લેખિત ઉત્પાદન માટે થાય છેવોલ્ટેજ1.2/50 માઇક્રો સેકન્ડ તરંગની આવેગ તરંગ. ઘટાડો એક આવેગવોલ્ટેજસંપૂર્ણ પરીક્ષણ વોલ્ટેજના 50 થી 75% વચ્ચે અને સંપૂર્ણ વોલ્ટેજ પર અનુગામી ત્રણ આવેગ.

માટે એત્રણ તબક્કાનું ટ્રાન્સફોર્મર, અનુગામી ત્રણેય તબક્કાઓ પર આવેગ હાથ ધરવામાં આવે છે.
વોલ્ટેજ દરેક લાઇન ટર્મિનલ પર અનુગામી રીતે લાગુ કરવામાં આવે છે, અન્ય ટર્મિનલ્સને માટીમાં રાખીને.
વર્તમાન અને વોલ્ટેજ તરંગ આકાર ઓસિલોસ્કોપ પર રેકોર્ડ કરવામાં આવે છે અને તરંગ આકારમાં કોઈપણ વિકૃતિ નિષ્ફળતા માટે માપદંડ છે.